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岛津EPMA-1720系列电子探针
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岛津EPMA-8050G场发射电子探针
卓越的空间分辨率 电子探针可达到的zei高级别的二次电子图像分辨率3nm(加速电压30kV),分析条件下No.1的二次电子分辨率。 (加速电压10kV时20nm@10nA
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电子探针
。电子探针分析如今是在多种领域中不可或缺的重要分析手段。 EPMA-1600/1610为数字式EPMA,操作简便性和可靠性兼备,这是以往的EPMA难以做到的。 以往的EPMA模拟操作和数字操作混在
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日本电子JXA-8230 电子探针显微分析仪
X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC
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SKAPHIA适用于放射性样品的带屏蔽功能的电子探针显微分析仪
功能。一系列核应用在全球已投入使用的众多仪器中,CAMECA是带屏蔽功能的EPMA仪器的全球领导者。我们为一系列核应用提供服务:材料和复杂微观结构中的辐射损伤过程的研究,核燃料循环材料分析,高级合金
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日本电子(EPMA)JXA-8530F Plus肖特基式场发射电子探针显微分析仪
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SEM QUANTAX EDS XFlash 7 - 最新 EDS 探头系列
( Solid Angle) 和更高的输出计数率。XFlash® 7 继续引领扫描电子显微镜 (SEM) 、聚焦离子束 (FIB-SEM) 和电子探针 (EPMA) 上能谱分析的性能与功能的标准
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水冷机
光谱仪(XRF)、X射线衍射仪(XRD)、X射线光电子能谱仪(XPS)、原子吸收光谱仪(AAS)、等离子光谱仪(ICP)、等离子体质谱仪(ICP-MS)、电子探针分析仪(EPMA)、扫描电镜(SEM
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日本电子EM-09100IS 离子切片仪
°C/h)湿度60% 以下*请提供安放设备的桌子。*产品外观及技术规格可能未经预告而有所变更。 用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜
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瑞绅葆CW-I一体风冷式水冷机
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